快速指南:正确测量Zeta电位和挑战性样品的粒度

报告人:Jason Lin博士,怀亚特科技公司
时间:2018年9月25日

Jason Lin博士在使用光散射表征许多类型的分析方面拥有丰富的经验,其中包括一些颇具挑战性的分析。

在本网络研讨会中,他将介绍在测量zeta电位粒径时可用来克服常见挑战的方法和技术。

网络研讨会将涵盖两种主要的光散射技术:动态光散射(DLS)和相位分析光散射(PALS)。 将根据理论和仪器设置介绍每种技术。 接下来将描述可能出现的常见挑战以及克服这些挑战的特定解决方案。

Q&A Webinar Q & A