聚合物体系的多检测器SEC表征

报告人:Judit Puskas博士,俄亥俄州立大学(OSU)
时间:2019年7月30日

本网络会议将讨论使用高分辨率,多检测器尺寸排阻色谱(SEC)对线性无规卷曲,支链(星形,无规,超支化)和环结构的聚合物体系结构进行分析。SEC结合了在线多角度光散射(MALS)、示差检测器(dRI)、紫外检测器(UV)、微分粘度和准弹性光散射(QELS,aka动态光散射,DLS)。该系统的丰富数据提供了聚合物分子结构和组成的详细表征。

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