专利

以下怀雅特技术公司产品已受下列美国专利的保护。

本页旨在作为35 U.S.C.§287(a)项下的通知。

ASTRA

美国专利号 专利名称
6,774,994 测定悬浮液中颗粒绝对数密度的方法和装置
7,331,218 毛细管桥式粘度计及比粘度测定方法
7,386,427 校正检测器间带宽效应的方法
7,813,882 测定溶液中分子平均性质的方法
7,911,594 校正探测器间带宽效应后导出样品物理性质的方法
10,712,321 从色谱系统收集的数据中消除周期性噪声的方法
11,768,185 分析由仪器收集到的数据

ATLAS

美国专利号 专利名称
9,335,250 光学测量元件气泡抑制系统

CALYPSO

美国专利号 专利名称
8,195,405 高浓度下大分子可逆缔合的表征方法

DAWN

美国专利号 专利名称
6,774,994 测定悬浮液中颗粒绝对数密度的方法和装置
10,466,173 包含可更换透明流动池的光流池组件
11,493,441 流通池、探头和滑块附件

DYNAMICS Touch

11,719,631 测量样品的光散射

DynaPro NanoStar

美国专利号 专利名称
9,274,044 包含蒸发抑制装置的光散射测量光析管
11,852,584 测量样品的光散射

DynaPro Plate Reader

美国专利号 专利名称
10,260,033 在高通量测量中减少蒸发的方法和装置
10,626,359 在高通量测量中减少蒸发的方法和装置
10,900,006 在高通量测量中减少蒸发的方法和装置

DynaPro ZetaStar

美国专利号 专利名称
11,719,631 测量样品的光散射
11,852,584 测量样品的光散射

Eclipse

美国专利号 专利名称
11,435,209 调节场流分离系统中检测器部分的流速

microDAWN

美国专利号 专利名称
10,408,716 测量液体样品的多个信号的方法和装置
10,908,054 测量来自液体样品的多个信号的装置

microOptilab

美国专利号 专利名称
6,975,392 具有增强的灵敏度的示差折射仪测量单元
7,027,138 结合光电探测器阵列的具有增强的灵敏度的示差折光仪
7,283,221 以绝对和相对折射率测量液体的折射仪单元

microViscoStar

美国专利号 专利名称
7,213,439 毛细管桥式粘度计的自动桥平衡装置和方法
7,331,218 毛细管桥式粘度计及比粘度测定方法
10,697,878 带溶剂压缩校正的示差粘度检测器
11,674,873 带溶剂压缩校正的示差粘度检测器

Mobius

美国专利号 专利名称
8,441,638 用于以散射和非散射光测量溶液中粒子的迁移率的装置
8,525,991 用于以散射和非散射光测量溶液中粒子的迁移率的方法
10,119,935 耐腐蚀电极的制造方法
10,422,768 测量流动样品电泳迁移率的方法和装置
11,774,404 耐腐蚀电极

Optilab

美国专利号 专利名称
6,975,392 具有增强的灵敏度的示差折射仪测量单元
7,027,138 结合光电探测器阵列的具有增强的灵敏度的示差折光仪
7,283,221 以绝对和相对折射率测量液体的折射仪单元

ViscoStar

美国专利号 专利名称
7,213,439 毛细管桥式粘度计的自动桥平衡装置和方法
7,331,218 毛细管桥式粘度计及比粘度测定方法
10,697,878 具有溶剂可压缩性校正的示差粘度计

此表最后更新日期截至 2024 年 2 月 6 日。